LAM-D拍照式葉面積儀 植物葉面指數測定儀產品介紹 LAM-D拍照式葉面積儀（電腦版）由圖像采集設備和圖像處理軟件組成，采用本公司新開發的圖像識別軟件，根據葉片輪廓特征提取、圖形實物轉換、邊緣檢測等技術，能夠形象并快速得到所測葉片面積、周長、蟲洞數量等參數。相比傳統的葉面積，具有測量更快速簡便、結果更形象客觀、數據多樣并大大減少了人為操作帶來的誤差。測量參數：葉片面積、周長，最大葉長、最大葉寬，

LAM-G葉面積儀 農作物葉片多參數測定儀用途： LAM系列葉面積測量儀是一種使用方便、可以在野外工作的便攜式儀器。可以精確、快速、無損傷地測量葉片的葉面積及相關參數，也可對采摘的植物葉片及其它片狀物體進行面積測量。廣泛應用于農業、氣象、林業等部門。

LAM-B植物葉面積儀 葉片面積測量儀用途： LAM系列葉面積測量儀是一種使用方便、可以在野外工作的便攜式儀器。可以精確、快速、無損傷地測量葉片的葉面積及相關參數，也可對采摘的植物葉片及其它片狀物體進行面積測量。廣泛應用于農業、氣象、林業等部門。可測量葉片的多種參數：葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬。

LAM-A葉面積測量儀 便攜式葉片面積檢測儀功能特點 1）主機、探頭一體化設計，更方便操作。 2）采用微電腦技術，LCD大液晶顯示。 3）高性能充電鋰電池，無需外部供電，低電壓顯示，更適用于野外測量。 4）一次性可測量較大葉片面積（1000*155mm） 5）可存儲9999組數據（葉面積、葉長、葉寬）。 6）可測量葉片的多種參數：葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬。

FS-leaf1000葉片圖像分析儀 農作物葉面積儀儀器用途 FS-leaf1000葉片圖像分析儀是一款計算機圖像分析系統，可以對闊葉葉片圖像進行葉面積及形態分析測量。該儀器由分析軟件和經過調校便攜式圖像采集硬件組成（可便攜的筆記本供電的掃描儀），可以分析計算出葉片面積、周長、葉片長度、寬度等各種參數廣泛運用于植物生理學、植物生態學、植物病理學、農學、園藝和林學等學科。

植物莖稈強度測量儀 作物生長抗倒伏測試儀儀器介紹： 植物莖稈的強度是決定作物抗倒伏能力的一個主要因素，長期以來玉米，高梁、煙草等的倒伏給作物的機械收割造成很大的困難。從機械化水平來說，造成大量的糧食浪費。另外，作物倒伏導致光照不充分，使其生產量受到極大的限制。在作物生長的各個階段對其莖稈進行活體測量，進而根據莖桿纖維層的抗彎阻力與抗倒伏能力的相關性對群體測量數據進行統計處理，對作物的栽培和育種具有

植物莖稈強度測量儀 莖稈抗壓強度檢測儀功能特點： 1、三種不同測頭：可進行莖桿彎折性能測量、莖稈抗壓強度測量、莖桿組織結構（穿刺）強度測量；彎折支架距離可調，并標有刻度。 2、可配測位移標尺 3、可連接電腦測試，可保存、打印，做各種分析，輸入速度、面積還可顯示位移、壓強等參數； 4、可儲存999個測試值； 5、大屏幕液晶顯示，有背光功能，并具有屏幕數字正、倒反轉功能；

DDZ-1植物抗倒伏測定儀 農作物倒伏分析儀儀器介紹： 近年來，由于氮肥的大量使用以及增加種植密度，提高了農作物單產，但是倒伏問題卻越來越嚴重，小麥、水稻大面積倒伏直接影響產量和品質，所以測量植物的莖稈強度和抗倒伏能力具有重要的意義。DDZ系列植物抗倒伏測定儀通過配置的探針、拉鉤、壓板等附件來測量農作物的莖稈強度及抗倒伏能力。 最大負荷：50N、500N (其他量程可定制，N、Kg和ib三種單位可

農作冠層中光線測量儀FS-PAR植物冠層測定儀： FS-PAR植物冠層測定儀可廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（µmol·m -2·s-1）

植物冠層圖像分析儀 植物直射輻射透過率用途與適用范圍： 可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等，可用于農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較；可對農田作物群體生長過程進行動態監測，適用于生態學野外植物群體動態監測的研究與教學； 也適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、植物群體對比與發展的研究與教學。